微分干涉金相顯微鏡 DMM-1200C

DMM-1200微分干涉金相顯微鏡（DIC)采用優(yōu)質(zhì)的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，微分干涉相襯顯微鏡適用于對(duì)多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器，可選用微分干涉（DIC）觀測(cè)、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好,是針對(duì)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、太陽(yáng)能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級(jí)工業(yè)金相顯微鏡使用;可進(jìn)行明場(chǎng)觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對(duì)太陽(yáng)能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、電路基板、FPD、精密模具的檢測(cè)分析。

詳細(xì)介紹技術(shù)參數(shù)

一、 DMM-1200C型微分干涉金相顯微鏡的主要用途和特點(diǎn)：

  DMM-1200微分干涉金相顯微鏡（DIC)采用優(yōu)質(zhì)的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，微分干涉相襯顯微鏡適用于對(duì)多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器，可選用微分干涉（DIC）觀測(cè)、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好,是針對(duì)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、太陽(yáng)能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級(jí)工業(yè)金相顯微鏡使用;可進(jìn)行明場(chǎng)觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對(duì)太陽(yáng)能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、電路基板、FPD、精密模具的檢測(cè)分析。

  DMM-1200C電腦型微分干涉金相顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計(jì)算機(jī)上很方便地適時(shí)觀察金相圖像，并可隨時(shí)拍攝記錄金相圖片,從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析,評(píng)級(jí)等,還可以保存或打印出高像素金相照片。